preprint
How to Identify Suitable Gate Dielectrics for Transistors based on Two-Dimensional Semiconductors
T. Knobloch, Q. Smets, A. E. O. Persson, P. Khakbaz, C. Wilhelmer, D. Lin, Z. Han, Y. Chung, K. P. O’Brien, C. Dorow, C. O’Coileáin, M. Lanza, D. Waldhoer, A. Karl, K. Liu, T. Zhai, H. Peng, C. Tan, X. R. Wang, G. S. Duesberg, J. Robertson, U. Avci, I. Radu, E. Pop, C. J. Lockhart de la Rosa, T. Grasser